W poniedziałek 19 V o godz 11.30 w sali 3/11 odbędzie się seminarium Katedry Zastosowań Informatyki. Dr Piotr Bilski wygłosi seminarium pod tytułem „Metody sztucznej inteligencji w diagnostyce systemów analogowych”.

Streszczenie
W wystąpieniu zaprezentowany zostanie dorobek habilitacyjny prelegenta. Najpierw zostanie przedstawiona dziedzina, w której się on specjalizuje (tj. diagnostyka techniczna), przedstawione też zostaną problemy w niej napotykane. Następnie omówione zostaną konkretne metody sztucznej inteligencji do detekcji i identyfikacji uszkodzeń, zaproponowane przez autora, wraz z przykładami zastosowań do diagnostyki układów elektronicznych, maszyn elektrycznych i układów automatyki.